Præcis analyse af belægninger og smykker

X-Strata920 er en højpræcisions bordmodel XRF-analysator, der leveres med et stort udvalg af muligheder for at imødekomme mange typer prøver.

Den er ideel til måling af belægninger på en række substrater og er perfekt til analyse af elektronik, stik, dekorative genstande og smykker, hvor produktkvalitet skal fastslås.

Styrken ved X-Strata920 ligger i dens alsidighed. Du kan vælge mellem mange konfigurationer, herunder fem basis konfigurationer for at rumme prøver af forskellig størrelse, seks collimatorstørrelser for optimal analyse af funktioner i forskellige størrelser, samt yderligere automatiserede funktioner, der hjælper med at fremskynde måleprocessen samtidig med at nøjagtigheden opretholdes.

Let at bruge, med intuitiv software, kan X-Strata920 betjenes af ikke-specialister og vil nemt kunne integreres i din produktions- eller kvalitetssikringsafdeling.

Features

Med en række muligheder og alsidigheden til at imødekomme en bred vifte af prøver leverer X-Strata920 præcis analyse hver gang.

•     Tilpasningsdygtigt design for pålidelig analyse af en bred vifte af produkter.
   
•     Automatisk fokusering og valgfri motoriseret scene forbedrer nøjagtighed og hastighed.
   
•     Intuitiv SmartLink-software gør det let at tage og eksportere målinger.
   
•     Multikollimatordesign for yderste nøjagtighed for hver prøve.
   
•     Valg mellem proportionaltæller eller silicium drift detektor (SDD) for at passe til applikationen.
   
•     Overholder industriens normer, såsom IPC-4552A, ISO3497, ASTM B568 og DIN50987.
   
•     Let prøveindlæsning og hurtig analyse leverer resultater på sekunder.
   
•     Kraftig optik til analyse af enkeltlags- og flerlagsbelægninger, inklusive legerede lag.