FT200 Serien

Smart belægningsanalyse for hurtigere, forbundet måling

FT200-seriens bordmodeller af XRF-analysatorer er designet til væsentligt at reducere den tid, det tager at foretage en måling. Med erkendelsen af, at den mest tidkrævende del er opsætningen af prøven og valget af måleopskrift, har ingeniører hos Hitachi skabt en række banebrydende analysatorer, som effektivt 'opsætter' sig selv, hvilket gør det muligt at analysere mange flere dele inden for en enkelt vagt.

Automatisering og innovativ software er det, der kendetegner FT230- og FT210-analysatorerne. Smart Recognition-moduler såsom Find My Part™ betyder, at alt hvad operatøren skal gøre, er at indlæse prøven, bekræfte delen, og instrumentet tager sig af resten. Det vil finde de rigtige målesteder på din del – selv på store substrater – vælge det korrekte analyseprogram og sende resultaterne til dit kvalitetssystem. Tid og menneskelige fejl reduceres, og du får udført mere analyse på kortere tid, hvilket gør 100% inspektion meget mere realistisk i et travlt produktionsmiljø.

Hvert eneste element af FT230 og FT210 er designet til drastisk at reducere analysetiden:

• Automatisk fokusering reducerer tiden det tager at indlæse prøver.
   
• Find My Part™ smart genkendelse indstiller automatisk den komplette målerutine.
   
• Prøvevisningen præsenteres over en stor del af skærmen for fremragende synlighed.
   
• Selvkontrollerende diagnostik bekræfter instrumentets sundhed og stabilitet.
   
• Integreres problemfrit med anden software og eksporterer let data.
   
• Intuitiv og nem at bruge for ikke-specialister takket være et nyt brugerinterface.
   
• Kraftfuld nok til at måle op til fire lag på én gang plus substratet.
   
• Holdbar for en lang levetid i et udfordrende produktions- eller laboratoriemiljø.
   
• Overholder ASTM B568 og DIN ISO 3497.
   
• Hjælper dig med at opfylde specifikationerne for ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), nedsænkning Sn (IPC-4554) og nedsænkning Ag (IPC-4553A).