Overlegen Ydeevne, Utrolig Effektivitet
OE750 er en banebrydende ny OES-metallanalysator. Den dækker hele spektret af elementer i metal og har også nogle af de laveste detektionsgrænser i sin klasse.
Stramning af industrireguleringer, komplekse forsyningskæder og øget brug af skrot som basismateriale betyder, at det er afgørende for støberier og metalproducenter at kontrollere urenheder og sporstoffer i det laveste ppm-område. Historisk set var OES-analyse på dette niveau uopnåeligt for mange virksomheder. Det er nu ændret med OE750 fra Hitachi High-Tech.
Dette helt nye gnistspektrometer giver dig mulighed for at analysere alle hovedlegeringselementer og identificere usædvanligt lave niveauer af urenheder, sporstoffer og behandlingselementer i metaller, såsom nitrogen i stål. Hurtige måletider, høj pålidelighed og lave driftsomkostninger gør OE750 uvurderlig for daglig analyse og total kvalitetskontrol, med ydeevne på niveau med større og dyrere spektrometre.
Der ligger over 45 års erfaring med metalindustrien bag designet af den tyskproducerede OE750. Fra måling af nitrogen i stål og jern til fosfor i aluminium giver denne analysator dig den omfattende metalanalyse, du har brug for, for at opfylde dagens strenge specifikationer.
For hurtig, omfattende analyse af metal kvalitet i et enkelt overkommeligt instrument leverer OE750 fra Hitachi High-Tech alt, hvad du har brug for.
Med stadig højere kontrol og regulering, komplekse forsyningslinjer og et stadigt stigende brug af genanvendte dele, er det nødvendigt for støberier og andre produktionsanlæg at kontrollere mængden af sporstoffer, til de laveste niveau muligt.
Historisk set har disse niveau førhen været urealistiske at opnå for en lang række firmaer. Det bliver der nu ændret på med OE750 fra Hitachi High-Tech.
Dette nye gløde spektrometer gør det muligt at analysere alle legerings elementer og identificere enestående lave niveauer af sporstoffer og behandlingselementer, såsom nitrogen i stål.
Med hurtige målinger, høj pålidelighed og lave driftsomkostninger er OE750 et uvurderligt redskab til rutine-analyse og komplet kvalitetskontrol med egenskaber på højde med langt større og dyrere spektrometre.
Demo Video
Vi Gør Høj Ydeevne Overkommelig
DET HANDLER ALT SAMMEN OM TEKNOLOGIEN.
OE750 inkluderer det nyeste indenfor halvlederdetektorer og et nyt optisk koncept (med fire ventende patenter). Dette giver Hitachi OES-analysatoren den højeste optiske opløsning i sin klasse, så du ikke behøver at vælge mellem høj ydeevne og lav pris. Innovativ brug af dynamiske CMOS-detektorer og direkte kobling af optikken til gniststativet sikrer den bedste lysstyrke sammen med et bølgelængdeområde fra 119 nm til 766 nm. Dette dækker alle elementer, fra hydrogen til uran, for en komplet metaleanalyse*. Denne ydeevne er normalt kun tilgængelig med højkvalitets kontrolinstrumenter, men OE750 holder omkostningerne nede gennem innovation, lavt argon- og strømforbrug.
OE750 giver dig maksimal fleksibilitet for elementvalg, hvilket gør din operation klar til fremtiden.
Maksimal Pålidelighed, Minimal Nedetid
OE750 er konstrueret til at holde dig kørende. Vedligeholdelsestiden er minimeret; for eksempel behøver du kun at rense gniststativet efter hver få tusinde målinger*, og standardiseringsintervallerne er typisk uger eller endda måneder. Dette kunne potentielt give dig op til to timer ekstra produktivitet.
Desuden giver en nyudviklet elektrisk gnistkilde dig bedre pålidelighed og den bedste energiopvækningspuls per element, hvilket gør din analyse mere præcis.
Resultater du kan stole på
- Højeste optisk opløsning i sin klasse for kontrol af sporstoffer
Lav driftomkostning
- Overkommelig pris for et udstyr som kan mere.
Hold det kørende
- Bygget og designet med pålidelighed og mindst mulig vedligeholdelse for øje
Kontinuerlig produktion
- Hurtig analyse og kort opstarts-tider for hurtig feedback af smeltekvalitet
Tekniske Specifikationer
Dimensions, electrics | |
Width / height / depth | 425 mm / 535 mm / 760 mm |
Weight | 82 kg / 181 lbs |
Power | 100 - 240 V AC, 50 / 60 Hz |
Consumption max. | 430 W |
Operating mode / standby | 45 W / (50 W source on) |
Optical system | |
Rowland circle | Paschen-Runge mounting |
High resolution multi-CMOS | Optimised pixel resolution |
Wavelength range | 119 - 766 nm |
Focal length | 400 mm |
Solid state source | Computer controlled parameters |
Frequency | 80 - 1000 Hz |
Voltage | 250 - 500 V High Energy Pre Spark (HEPS) |
Readout system | |
External PC workstation | Microsoft® Windows® user interface |
Options | Adapters Spare parts kit Consumables Sample preparation devices Floor stand version |
Titel | Type | Størrelse | Download |
---|---|---|---|
OE750-Ad-EN.pdf | 3.14MB | Download | |
OE750-Brochure-EN.pdf | 1.37MB | Download | |
OE750-Tech-Spec-EN.pdf | 535.65KB | Download | |
OE750-User-Manual-EN.pdf | 1.45MB | Download | |
OES-Argon-Consumption-1.pdf | 497.75KB | Download |